TRƯỜNG ĐẠI HỌC CÔNG NGHIỆP THÀNH PHỐ HỒ CHÍ MINH
KHOA CÔNG NGHỆ

CÁC PHƯƠNG PHÁP PHÂN
TÍCH HÓA LÍ
Xác định cấu trúc tinh thể của CaO, SiO2,
MgO, Al2O3, MnO2

Nhóm : Trương Thị Thu Nhàn
Đinh Thị Hải


1

Tổng
quan

2

Thực
hành

3

Kết
quả


1. Tổng quan về XRD
PHƯƠNG PHÁP BỘT
•


1. Tổng quan về XRD
Giản đồ nhiễu xạ tia X:


1. Tổng quan về XRD
Giản đồ nhiễu xạ tia X:
• Bao gồm các peak có cường độ khác nhau. Mỗi peak
tương ứng với một phản xạ của họ mặt (HKL) nào đó.
• Từ giản đồ nhiễu xạ ta thu được rất nhiều thông tin về
khoảng cách giữa các mặt (HKL), cường độ tương đối
của mỗi pic …
• Hai yếu tố chính quyết định đến hình dạng của giản đồ
nhiễu xạ tia X:
(a) Kích thước và hình dạng của ô đơn vị
(b) Số nguyên tử và vị trí các nguyên tử trong ô đơn vị


1. Tổng quan về XRD
Giản đồ nhiễu xạ tia X:

• Khoảng cách d giữa các mặt mạng phụ thuộc vào kích thước ô
cơ sở và đến lượt nó quyết định vị trí của các pic.
• Bề rộng của píc và hình dạng của píc phụ thuộc vào điều kiện
đo cũng như một số thuộc tính của vật liệu, ví dụ như kích thước
hạt…
• Cường độ của píc phụ thuộc vào sự sắp xếp cấu trúc tinh thể,
ví dụ như vị trí của các nguyên tử trong ô cơ sở và sự dao động
nhiệt của các nguyên tử.


mịn trong
khay

Mẫu
hóa
chất

Khay
chứa
mẫu

Chiếu tia X
vào mẫu ở
những góc
quay khác
nhau 10-80o

Buồn
g
chiế
u tia
X

Detect
or

Phổ

Thàn
h



3. Kết quả
MgO2